雷達物位計天線發(fā)射J窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，碰到被測介質(zhì)表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線被測介質(zhì)表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度J高，發(fā)射脈沖與接受脈沖的時間間隔很小（納秒量J）很難確認(rèn)。CDRD50系列雷達物位計采用一種特殊的相關(guān)解調(diào)技術(shù)，可以準(zhǔn)確識別發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間隔，從而進一步計算出天線到被測介質(zhì)表面的距離。

特  點
由于采用了的微波處理器和獨特的EchoDiscovery回波處理技術(shù)，導(dǎo)波雷達物位計可以應(yīng)用于各種復(fù)雜工況。
“虛假回波學(xué)習(xí)”功能使得儀表在多個虛假回波的工況下，可正確地確認(rèn)真實回波，獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果。
多種過程連接方式及天線型式，使得CDRD50系列雷達物位計適用于各種復(fù)雜工況及應(yīng)用場合。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)的測量等。
采用脈沖工作方式，雷達物位計發(fā)射功率J低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對人體及環(huán)境均無傷害。

• 應(yīng)用:存儲容器或過程容器,復(fù)雜過程條件
  大量程： 30m
  測量精度：±10mm
  過程連接：法蘭316L
  探測組件材料：不銹鋼316L/PTFE
  鋼纜/棒直徑：￠28mm
  過程溫度：-40～200℃
  過程壓力：-0.1～40bar
  頻率范圍：6GHz
  信號輸出：兩線制/四線制4～20mA /HART